Bàn thử nghiệm tác động gia tốc cao, hệ thống thử nghiệm tác động được thiết kế cho các linh kiện điện tử, dụng cụ và sản phẩm cơ khí để cung cấp thiết bị kiểm tra môi trường tác động mô phỏng, trong quá trình vận chuyển, sử dụng sản phẩm để chịu được mức độ hư hỏng do va đập, có thể hoàn thành một nửa sóng hình sin (dạng sóng cơ bản), sóng răng cưa sau đỉnh, sóng hình thang;Các yêu cầu liên quan đối với thử nghiệm va đập của ba xung.Bàn thử nghiệm tác động SS-10 chủ yếu được sử dụng để thử nghiệm tác động của các sản phẩm vừa và nhỏ để đánh giá khả năng chịu đựng thiệt hại do va đập của sản phẩm thử nghiệm.Thường được sử dụng trong linh kiện điện tử, bảng mạch điện tử và các thử nghiệm môi trường khác.Thiết bị thử nghiệm tuân theo các điều kiện thử nghiệm tác động cơ học theo phương pháp 213 trong tiêu chuẩn GJB 360A-96, GB/T2423.5-1995 “Quy trình thử nghiệm môi trường cơ bản đối với thử nghiệm sản phẩm điện và điện tử Ea: Phương pháp thử nghiệm tác động” và “IEC68-2-27, Kiểm tra Ea: Tác động”;Yêu cầu thông số kỹ thuật UN38.3 và “MIF-STD202F” để thử nghiệm tác động.