Bàn thử va đập gia tốc cao, hệ thống thử va đập được thiết kế cho các linh kiện điện tử, dụng cụ và sản phẩm cơ khí để cung cấp thiết bị thử nghiệm môi trường va đập mô phỏng, trong quá trình vận chuyển, sử dụng sản phẩm để chịu được mức độ hư hỏng do va đập, có thể hoàn thành dạng sóng nửa sin (dạng sóng cơ bản), sóng răng cưa sau đỉnh, sóng hình thang; Các yêu cầu liên quan đến thử nghiệm va đập của ba xung. Bàn thử va đập SS-10 chủ yếu được sử dụng để thử nghiệm va đập các sản phẩm vừa và nhỏ để đánh giá khả năng chịu hư hỏng do va đập của sản phẩm thử nghiệm. Thường được sử dụng trong các linh kiện điện tử, bảng mạch điện tử và các thử nghiệm môi trường khác. Thiết bị thử nghiệm tuân thủ các điều kiện thử nghiệm va đập cơ học theo phương pháp 213 trong tiêu chuẩn GJB 360A-96, GB/T2423.5-1995 “Quy trình thử nghiệm môi trường cơ bản cho sản phẩm điện và điện tử Thử nghiệm Ea: Phương pháp thử nghiệm va đập” và “IEC68-2-27, Thử nghiệm Ea: Va đập”; Các yêu cầu về thông số kỹ thuật của UN38.3 và “MIF-STD202F” để thử nghiệm va đập.